红外焦平面阵列非均匀校正技术研究
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A Modified Nonuniformity Correction Method of Infrared Focal Plane Array
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    红外焦平面阵列探测器广泛应用于红外成像制导系统。但焦平面阵列的非均匀性校正技术与探测器的性能息息相关,因此必须进行非均匀性校正。在众多非均匀校正方法中,两点法和时间高通自适应方法是两种最典型的方法。文中对这两种方法分别进行了分析,并对一般的时间高通自适应非均匀校正法提出了改进,以达到更好的校正效果。

    Abstract:

    Infrared focal plane array(IR FPA) detector has been widely used in new infrared guided system because of its outstanding performance. But the Nonuniformity of IR FPA debases the perforance of the detector. Lots of nonuniformity correction methods have been developed to solve the problem. The paper puts forward a modified method to correct the nonuniformity of IRFPA to get better infrared image.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

王平,李飚,沈振康.红外焦平面阵列非均匀校正技术研究[J].国防科技大学学报,2001,23(5):122-125.
WANG Ping, LI Biao, SHEN Zhenkang. A Modified Nonuniformity Correction Method of Infrared Focal Plane Array[J]. Journal of National University of Defense Technology,2001,23(5):122-125.

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  • 收稿日期:2001-03-13
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  • 在线发布日期: 2013-08-21
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